HiMEMS

 

Heterogeneous integrated Micro-Electro-Mechanical-System Lab

                                   

 

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干涉儀

 

 

 

干涉儀:WYKO-NT1100

可提供MEMS元件高準度的2D3D表面量測(包含結構形狀粗糙度曲率

半徑等數據圖形的量測),對結構量測其解析度可達30 A而粗糙度可達3A

 

 

 

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的梳狀致動器 3D model

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的梳狀致動器 2D model 及分析

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的懸臂樑基部 3D model

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的懸臂樑基部 2D 分析

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的懸臂樑基部 3D model

 

 

 

本實驗室利用 WYKO 量取出的懸臂樑基部 2D 分析

 

 

 

 

 

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